В соответствии с графиком были проведены работы по метрологическом обеспечению измерений.
В мае 2015 года сотрудниками ЦКП совместно с Метрологической службой ФТИ им. А.Ф. Иоффе проведена плановая калибровка оборудования:
- просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F;
- рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Discovery;
- зондовый электронный микроскоп Veeco Dimension 3100;
- вторично-ионный микроанализатор Cameca IMS-7f.