|
№ п/п |
Наименование |
Назначение и основные характеристики |
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения |
|---|---|---|---|
|
1 |
Комплекс для локального анализа поверхности с помощью сканирующей зондовой микроскопии в условиях контролируемой инертной атмосферы |
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методиками спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследований в условиях инертной атмосферы с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. |
+ |
|
2 |
Порошковый рентгеновский дифрактометр Bruker D2 Phaser |
Порошковая рентгеновская дифрактометрия, рентгенофазовый анализ |
+ |
|
3 |
Сферический токамак Глобус-М |
Сферический токамак нового поколения, предназначенный для исследования физических процессов в плазме сферической конфигурации и отработки инженерных рекомендаций для сферических токамаков мегаамперного диапазона. |
|
|
4 |
Комплекс для локального анализа структуры, атомного состава и связей с помощью просвечивающей электронной микроскопии на базе JEM-2100F |
локальный анализ структуры, атомного состава и связей методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения и микроанализа. |
+ |
|
5 |
Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом D8 Discover |
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия |
+ |
|
6 |
Установка для электронной литографии на базе растрового электронного микроскопа JSM-7001F |
Предназначен для электронной литографии, растровой электронной микроскопии высокого разрешения. Микроструктурный анализ: текстурный анализ, построение карт ориентировки кристаллитов, дискриминация фаз и построение карт распределения кристаллических фаз, определение размера и формы зерен, определение типа границ, построение полюсных фигур. |
+ |
|
7 |
Микроскоп стереоскопический с системой цифровой регистрации SMZ 745T |
Оптическая микроскопия с цифровой регистрацией |
|
|
8 |
Установка для исследования температурной зависимости электрофизических и оптических параметров твердотельных наногетероструктур |
Исследования методом нестационарной спектроскопии глубоких уровней и спектроскопии полной проводимости в широком диапазоне температур |
|
|
9 |
Система ионного утонения образцов Nanomill 1050 |
Пробоподготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии |
|
|
10 |
Микроскоп стереоскопический с системой цифровой регистрации Eclipse L150 |
Оптическая микроскопия с цифровой регистрацией |
|
|
11 |
Вторично-ионный микрозондовый масс-спектрометр IMS-7f |
Для измерений массы вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов. Прибор применяется для контроля дозы имплантации, измерений глубин р-n переходов, разработки технологических процессов, послойного элементного анализа в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. |
+ |
|
12 |
Специализированный высоковакуумный стенд STE IBS (НиТО) |
Предназначен для проведения исследования низкодозной и низкоэнергетической ионной модификации приповерхностных слоев вольфрама |
|